Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения
Описание и характеристики
ID товара
2525073
Издательство
БИНОМ. Лаборатория знаний
Год издания
2016
ISBN
978-5-99-631110-1
Количество страниц
582
Размер
24x17x2.9
Тип обложки
Твердый переплёт
Тираж
700
Вес, г
910
Извините, на сайте что-то сломалось.
Обновите страницу.
Отзывы
15 бонусов
за полезный отзыв длиной от 300 символов
15 бонусов
если купили в интернет-магазине «Читай-город»
Оставьте отзыв и получите бонусы
Оставьте первый отзыв и получите за него бонусы.
Это поможет другим покупателям сделать правильный выбор.
4.0
Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных на-нострукгур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.
.Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.
.
.